09:00 〜 09:15
〇田辺 稔1 (1.産総研 計測標準)
一般セッション(口頭講演)
3 光・フォトニクス » 3.8 光計測技術・機器
2016年9月16日(金) 09:00 〜 12:15 C32 (日航3階孔雀CD)
△:奨励賞エントリー
▲:英語発表
▼:奨励賞エントリーかつ英語発表
空欄:どちらもなし
09:00 〜 09:15
〇田辺 稔1 (1.産総研 計測標準)
09:15 〜 09:30
〇田辺 稔1、丹羽 一樹1、木下 健一1 (1.産総研 計測標準)
09:30 〜 09:45
藤田 康彦2、猪瀬 朋子1、〇雲林院 宏1,2 (1.北海道大学電子科学研究所、2.ルーバン大学)
09:45 〜 10:00
〇Bei Zhang1、Le Wang2、Peng Yan1 (1.Beihang University、2.Renmin Uni of China)
10:00 〜 10:15
〇藤江 彰裕1、三輪 佳史1、遠藤 貴雄1、安藤 俊行1 (1.三菱電機 株式会社)
10:15 〜 10:30
〇木村 亮祐1、土屋 光揮1、田中 洋介1、黒川 隆志1 (1.農工大工)
10:45 〜 11:00
〇(D)Anisha Pathak1、Banshi Gupta1 (1.Indian Inst. of Tech., Delhi)
11:00 〜 11:15
〇井戸 哲也1、望月 和人2、赤羽 浩一1 (1.情通機構、2.電通大先進理工)
11:15 〜 11:30
〇蜂須 英和1、中川 史丸1、花土 ゆう子1、井戸 哲也1 (1.情通機構)
11:30 〜 11:45
〇椿 光太郎1 (1.東洋大総情)
11:45 〜 12:00
〇(M1)太田 一毅1 (1.宇都宮大)
12:00 〜 12:15
〇(M1C)鈴木 雄也1、近藤 英一1、渡邉 満洋1、金 蓮花1、濵田 聡美2、嶋 昇平2、檜山 浩國2 (1.山梨大工、2.荏原製作所)
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