The 77th JSAP Autumn Meeting, 2016

Presentation information

Oral presentation

6 Thin Films and Surfaces » 6.2 Carbon-based thin films

[13p-A26-1~16] 6.2 Carbon-based thin films

Tue. Sep 13, 2016 1:15 PM - 6:00 PM A26 (203-204)

Hiroshi Kawarada(Waseda Univ.), Junko Hayase(Keio Univ.), Satoshi Yamasaki(AIST)

3:45 PM - 4:00 PM

[13p-A26-9] NMR measurement using highly aligned delta doped NV center diamond film

Hitoshi Ishiwata1, Kosuke Tahara1,2, Hayato Ozawa1,2, Takayuki Iwasaki1,2, Mutsuko Hatano1,2 (1.Tokyo Instit. of Tech., 2.CREST)

Keywords:carbon thin film, NV center

タイヤモンドNVセンターは室温において電子スピン制御が可能な量子センサーであり、NMRへの応用が期待されている。センサーの磁気感度はNVセンター密度、配向、表面からの距離により決定することから、高密度なNVセンターをデルタドープ層として形成することが重要である。デルタドープ膜に関する先行研究において、高配向なNVセンターを有するデルタドープ薄膜の形成に関しては報告がない。NVセンターの配向制御には、(111)基板上へのCVD成長が有効であり、本研究では(111)基板においてステップフロー合成を実現し高配向なNVセンターを有するデルタドープ薄膜の作製を実現した。NMRの信号強度の変化を利用して有効なデルタドープ層の深さを計算したところ、20nm以下の領域に存在することを確認している。