[13p-C31-1~11] 7.1 X-ray technologies

[13p-C31-8] X-ray phase-contrast imaging by using a high-resolution X-ray detector composed of phase-separated scintillators on a CMOS image sensor

〇Yoshihiro Ohashi¹, Nobuhiro Yasui¹, Toru Den¹, Kei Kamada², Akira Yoshikawa^2,3 (1.Canon Inc., 2.NiCHe Tohoku Univ., 3.IMR Tohoku Univ.)

Keywords:scintillator, X-ray phase-contrast imaging, X-ray detector

X 線のTalbot-Lau 干渉計を用いたX 線位相イメージングにおいて、Tb³⁺添加GdAlO₃-Al₂O₃相分離シンチレータを高精細CMOSセンサに貼り付けて一体型にしたX線検出器を用いて、位相格子によって形成される8.24µm周期の網目状の自己像を直接観察し解析することで、吸収格子を用いずに直交二方向への微分位相像を取得した結果について報告する。