[13p-P3-1~1] 7.4 量子ビーム界面構造計測

△ [13p-P3-1] ミクロ相分離単分子膜を鋳型としたシリカ前駆体による垂直成長構造体のX線構造解析

〇枝 真住¹、奈須野 恵理¹、加藤 紀弘¹、飯村 兼一¹ (1.宇都宮大院工)

キーワード：展開単分子膜、微細構造、X線回折法

相分離展開単分子膜から作製した鋳型表面を利用したシリカ前駆体による垂直成長構造体（VGS）の構築、および単分子膜とVGS の面内・面外X線回折法による構造解析を行った。単分子膜を作製する膜分子の組み合わせを変えることにより、面内の形態的特徴が異なる三種の鋳型構造を作製し、位置選択的にVGSを吸着・成長させた。単分子膜やVGSにおける分子充填構造を明らかにし、それらに基づき膜形態の変化やVGS成長機構を考察した。