16:00 〜 18:00
▲ [13p-P8-37] Detecting superficial cracks by using eddy current method and magnetic tunnel junction devices with varied size
キーワード：spintronics, eddy current test, magnetic tunnel junction
講演情報
一般セッション(ポスター講演)
10 スピントロニクス・マグネティクス » 10 スピントロニクス・マグネティクス(ポスター)
[13p-P8-1~46] 10 スピントロニクス・マグネティクス(ポスター)
2016年9月13日(火) 16:00 〜 18:00 P8 (展示ホール)