2016年 第77回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

6 薄膜・表面 » 6.6 プローブ顕微鏡

[14a-A32-1~7] 6.6 プローブ顕微鏡

2016年9月14日(水) 09:30 〜 11:15 A32 (302B)

山田 豊和(千葉大)

10:30 〜 10:45

[14a-A32-5] 原子間力顕微鏡による単一原子の電気陰性度測定

〇(PC)小野田 穣1,2、Ondracek Martin3、Jelinek Pavel3、杉本 宜昭1,2 (1.東大新領域、2.阪大院工、3.チェコ科学アカデミー)

キーワード:原子間力顕微鏡、電気陰性度

電気陰性度は化学現象を考える上で重要な基本概念であり、1932年にPaulingによって初めて具体的な表式が与えらている。本研究では、原子間力顕微鏡(AFM)による単一原子の電気陰性度測定を試みた。様々な元素に対して最大化学結合エネルギーに関するプロットを行った結果、切片をもつ特徴的な一次関係が普遍的に現れた。Paulingの極性共有結合の式を用いてこれら一次関係を解析した結果、切片から電気陰性度の見積もりが可能であることが分かった。