[14p-A24-1~11] Present status and future prospects on reliability of photovoltaic modules

[14p-A24-5] Characterization of Potential Induced Degradation of Crystalline Si Solar Cell Modules Using a Laser Terahertz Emission Microscope (LTEM)

〇Fujikazu Kitamura¹, Kiyotaka Matsuo¹, Minoru Mizubata¹, Hidetoshi Nakanishi¹, Iwao Kawayama², Masayoshi Tonouchi², Katsuhiko Shirasawa³, Toshimitsu Mochizuki³, Hidetaka Takato³ (1.SCREEN, 2.ILE Osaka Univ., 3.FREA AIST)

Keywords:Terahertz, Solar Cell, Photovoltaic, Femtosecond Laser

レーザーテラヘルツエミッション顕微鏡（LTEM）は、半導体や電子デバイスに対してレーザー照射によって放射されるTHz波を検出しイメージ化する計測技術である。我々はこの技術を太陽電電池モジュールの電圧誘起劣化(PID)評価に適用し、フォトルミネッセンス(PL)法やエレクトロルミネッセンス(EL)法と比較を行った。当日は、LTEM計測技術の紹介とPID現象のLTEMによる評価・考察について説明する。