[14p-A24-1~11] 太陽電池モジュール信頼性の現状と今後の展開

[14p-A24-5] レーザーテラヘルツエミッション顕微鏡（ LTEM ）を用いた結晶Si太陽電池モジュールの電圧誘起劣化評価

〇北村 藤和¹、松尾 清隆¹、水端 稔¹、中西 英俊¹、川山 巌²、斗内 政吉²、白澤 勝彦³、望月 敏光³、高遠 秀尚³ (1.SCREEN、2.阪大レーザー研、3.産総研)

キーワード：テラヘルツ、太陽電池、フェムト秒レーザー

レーザーテラヘルツエミッション顕微鏡（LTEM）は、半導体や電子デバイスに対してレーザー照射によって放射されるTHz波を検出しイメージ化する計測技術である。我々はこの技術を太陽電電池モジュールの電圧誘起劣化(PID)評価に適用し、フォトルミネッセンス(PL)法やエレクトロルミネッセンス(EL)法と比較を行った。当日は、LTEM計測技術の紹介とPID現象のLTEMによる評価・考察について説明する。