[14p-A24-1~11] Present status and future prospects on reliability of photovoltaic modules

△ [14p-A24-7] Analysis of PID kinetics of Si PV modules with shunt resistance change

〇(M2)Koki Onodera¹, Daisuke Ando¹, Yuji Sutou¹, Junichi Koike¹ (1.Tohoku Univ.)

Keywords:Potential Induced Degradation, solar cell

近年、世界規模の地球温暖化を抑止する観点から、定値型再生可能エネルギー源としてメガソーラーの普及が進んでいる。しかしながら、発電効率が突然低下するPID現象(Potential Indeced Degradation)が発生することが喫緊の課題となっている。本研究ではPID現象に付随して発生する並列抵抗(Rsh)の低下に注目し、PID現象の定量的理解を試みた。結果としてPID現象は二段階の劣化に分かれることが判明し、印加電圧が初期劣化の速度に影響を与えることが明らかになった。