[14p-A41-1~9] Symposium of Photonics Division, "Researchers pioneering next-generation photonics"

[14p-A41-6] Chemical Imaging ~Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry and Near-Field Infra Red Microscope~

〇Satoka Aoyagi¹ (1.Seikei Univ.)

Keywords:ToF-SIMS, Imaging

高感度かつ100nm以下の高い空間分解能で化学イメージングを示すToF-SIMSの最新動向および質量情報が得られるSIMSとは異なる化学情報を与える近接場赤外顕微鏡との相補的な活用について紹介する。