[14p-B6-1~12] 7.5 Ion beams

△ [14p-B6-9] Expansion of Observation Area of Ar-Field Ion Microscopy by Image Processing

〇(M1)Chikasa Nishimura¹, Tsuji Hiroshi¹, Gotoh Yasuhito¹ (1.Kyoto Univ.)

Keywords:Field Ion Microscopy, Argon, Image Processing

アルゴンを用いたタングステン表面の電界イオン顕微鏡像は部分的であり、全体像が確認できない。印加電圧上昇とともに変化する像を記録した動画を1秒ごとに静止画として切り出し、それをディジタル技術を用い画像処理することで、タングステン表面全体の電界イオン顕微鏡像を得た。