13:30 〜 15:30
[14p-P10-17] 極薄チャネルZnO-TFTにおける熱処理の効果
キーワード:ZnO-TFT、熱処理
我々のグループでは、TFT デバイス構造を直接評価する目的で、電流DLTS 法によるデバイス特性の評価と解析を進めている。今回の発表では、ZnO 薄膜およびそれをチャネルに用いたTFT に対し酸素雰囲気中で熱処理を施し、構造および電気的特性評価を行った結果について報告する。
一般セッション(ポスター講演)
合同セッションK「ワイドギャップ酸化物半導体材料・デバイス」 » 合同セッションK 「ワイドギャップ酸化物半導体材料・デバイス」(ポスター)
2016年9月14日(水) 13:30 〜 15:30 P10 (展示ホール)
13:30 〜 15:30
キーワード:ZnO-TFT、熱処理