The 77th JSAP Autumn Meeting, 2016

Presentation information

Oral presentation

13 Semiconductors » 13.8 Compound and power electron devices and process technology

[15a-B1-1~13] 13.8 Compound and power electron devices and process technology

Thu. Sep 15, 2016 9:00 AM - 12:30 PM B1 (Exhibition Hall)

Kenji Shiojima(Univ. of Fukui)

10:15 AM - 10:30 AM

[15a-B1-6] Effect of the CR product for diamond Schottky barrier diodes in rectenna

Naoto Kawano1, Satoshi Takayoshi1, Takayoshi Oshima1, Toshiyuki Oishi1 (1.Saga Univ.)

Keywords:diamond, rectenna, schottky barrier diode

ダイヤモンドレクテナ回路のRF-DC変換効率向上を目的として容量抵抗積(CR)をひとつの指標とし,ショットキー面積Sとの依存性を検討したところ,作製したダイヤモンドショットキーバリアダイオードのCRの実測値からSに対して増加する傾向を得ることができた.また,等価回路モデルを考え,CRとSの関係を定式化し,CR値を実験的に求めた.