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一般セッション(口頭講演)

3 光・フォトニクス » 3.8 光計測技術・機器

[15a-C32-1~12] 3.8 光計測技術・機器

2016年9月15日(木) 09:00 〜 12:15 C32 (日航3階孔雀CD)

野村孝徳(和歌山大)、稲場肇(産総研)

09:15 〜 09:30

[15a-C32-2] シングルショット２次元コム干渉計測のための
干渉次数判別法の波長帯依存性

〇(M1C)有谷光¹、バン　クォックトゥアン¹、塩田達俊¹ (1.埼大院理工)

キーワード：干渉法、形状計測