[15p-B12-1~19] 3.12 ナノ領域光科学･近接場光学

[15p-B12-13] Si/SiO₂上金ナノ円盤の表面電位の光照射による変化およびその構造依存性

〇(M1)江崎 智太郎¹、松谷 晃宏²、西岡 國生²、庄司 大²、佐藤 美那²、岡本 隆之³、磯部 敏宏¹、中島 章¹、松下 祥子¹ (1.東工大、2.東工大技術部マイクロプロセス部門、3.理化学研究所)

キーワード：ケルビンプローブフォース顕微鏡、ナノ構造、プラズモン

プラズモンにより生じる特徴的な光学特性を示す金属ナノ構造体は、新たな光学技術を生む可能性を有しており、数多くの研究がなされている。興味深い特長の一つとして構造に依存した電場増強がある。 本研究では、ケルビンプローブフォース顕微鏡を用いた表面電位測定により、特に構造体配列に依存した電場増強を直接観察することを目的とする。今回は金ナノ円盤の配列と照射光波長により表面電位がどのように変化するかを検討した。