[15p-B5-1~19] 7.2 電子ビーム応用

[15p-B5-1] [7．ビーム応用　分科内招待講演] 半導体光陰極を用いた次世代透過電子顕微鏡の開発

〇桑原 真人^1,2、青木 幸太²、鈴木 潤士²、宇治原 徹^1,2、齋藤 晃^1,2、田中 信夫¹ (1.名古屋大未来研、2.名古屋大工)

キーワード：透過電子顕微鏡、光陰極、時間分解測定

負の電子親和性（NEA）表面を有する半導体光陰極を電子源に採用することで、電子線のスピンと時間を制御した透過電子顕微鏡（SP-TEM）の開発に成功した。これにより、スピン偏極電子線を透過電子顕微鏡で使用することが可能となった。またNEA半導体光陰極はレーザー駆動によるパルス電子線発生を容易に実現できることから、超高速時間分解測定への応用が期待される。