[15p-C32-1~16] CS.2 3.6超⾼速・⾼強度レーザー，3.8光計測技術・機器のコードシェアセッション

[15p-C32-10] チャープした光コムのスペクトル干渉によるワンショット形状計測手法の多点化

〇内田 めぐみ^1,2、加藤 峰士^1,2、美濃島 薫^1,2 (1.電通大、2.JST, ERATO美濃島知的光シンセサイザ)

キーワード：光周波数コム、距離計測、スペクトル干渉

本研究では、チャープした光コムを用いたパルス間スペクトル干渉において、バンドルファイバを用いた検出の同時多点化手法の開発を行った。実験では、光路に端面が円形配列のバンドルファイバを挿入し、1次元配列に変換された他方の端面から出射させ、グレーティングで波長分解して生じたスペクトル干渉像をIRカメラで取得した。これにより、多点のスペクトル干渉像を同時取得し、ワンショットで3次元計測を実現した。