1:30 PM - 3:30 PM
[15p-P13-9] ITO sputtering damage to Cat-CVD amorphous Si passivation films including doped films
Keywords:sputtering, catalytic chemical vapor deposition, solar cell
a-Siパッシベーション膜上に スパッタ法でITO膜を堆積すると,プラズマの影響により a-Si/c-Si界面特性が悪化し、τeffが大幅に低下する.Cat-CVD法にて堆積したn-およびp-a-Si/i-a-Si積層膜上にスパッタ基板温度の異なるITO膜を堆積し、ポストアニールによるτeffの回復を調査した結果、p-a-Si/i-a-Si積層構造では基板温度に依存し、また回復が遅いことを確認した。