2016年 第77回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(ポスター講演)

6 薄膜・表面 » 6.6 プローブ顕微鏡

[15p-P4-1~15] 6.6 プローブ顕微鏡

2016年9月15日(木) 13:30 〜 15:30 P4 (展示ホール)

13:30 〜 15:30

[15p-P4-2] イオンビーム誘起堆積法により作成したPt配線の局所電位測定

茂木 裕幸1、番場 隆文1、武内 修1、重川 秀実1 (1.筑波大数理)

キーワード:STM、ポテンショメトリ、イオンビーム誘起堆積法