2016年 第77回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

16 非晶質・微結晶 » 16.1 基礎物性・評価・プロセス・デバイス

[16a-A25-1~16] 16.1 基礎物性・評価・プロセス・デバイス

2016年9月16日(金) 09:00 〜 13:15 A25 (202)

鈴木 健伸(豊田工大)、斎藤 全(愛媛大)

12:00 〜 12:15

[16a-A25-12] 硫化インジウム薄膜のギャップ内準位評価

後藤 民浩1 (1.群馬大理工)

キーワード:硫化物、ギャップ内準位、光熱偏向分光法

In-S薄膜のギャップ内準位の理解を目指し研究を行なった。Arガスおよび硫黄ガス中で熱処理を行ない、サブギャップ光吸収の大幅な変化を観測した。