2016年 第77回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

3 光・フォトニクス » 3.8 光計測技術・機器

[16a-C32-1~12] 3.8 光計測技術・機器

2016年9月16日(金) 09:00 〜 12:15 C32 (日航3階孔雀CD)

崔 森悦(新潟大)、安田 正美(産総研)

11:30 〜 11:45

[16a-C32-10] 回折像を用いた簡便な微粒子粒径計測

椿 光太郎1 (1.東洋大総情)

キーワード:微粒子粒径測定

微粒子粒径計測は重要な技術であり、カメラで微粒子回折像を撮影し、その画像から画像解析技術を駆使して回折円を抽出し、回折円半径から微粒子粒径を算出する手法を考案し、霧中の水微粒子の成長を測定した。 この方法は、撮影した画像を撮影後にPCに取り込むこと、次に撮影画像の画像解析に計算資源が費やされ微粒子粒径算出時間が画像1枚当たり約0.2秒である等の課題があり、本講演ではこれらの課題を克服する手法を提案する。