16:00 〜 16:15 △ [20p-S321-9] Si基板上GaInAsP/InP薄膜DFBレーザの初期信頼性 〇福田 快1、井上 大輔1、平谷 拓生1、雨宮 智宏2、西山 伸彦1、荒井 滋久1,2 (1.東工大電気電子、2.東工大量子ナノ)