2016年第63回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

15 結晶工学 » 15.1 バルク結晶成長

[19a-H112-1~8] 15.1 バルク結晶成長

2016年3月19日(土) 09:45 〜 11:45 H112 (本館)

横田 有為(東北大)

10:00 〜 10:15

[19a-H112-2] EFG法によるβ-Ga2O3単結晶のドーパント偏析

渡辺 信也1、輿 公祥1、山岡 優1、増井 建和1、倉又 朗人1、山腰 茂伸1 (1.タムラ製作所)

キーワード:酸化ガリウム、EFG法、偏析

EFG法(単スリット)で育成した幅2インチ、厚さ6 mmおよび18 mmの不純物添加β-Ga2O3単結晶について、厚さ方向のドーパント濃度分布の解析および各不純物(Si, Sn, Fe)の偏析係数について述べる。厚さ中央(スリット位置)から端に向かって融液が流れるモデルで考えた場合、偏析係数を仮定したフィッティング(ノーマルフリージングの式)が、厚さ方向のドーパント濃度分布とよく一致した。