2016年第63回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.1 Si系基礎物性・表面界面・シミュレーション

[19a-S223-1~13] 13.1 Si系基礎物性・表面界面・シミュレーション

2016年3月19日(土) 09:00 〜 12:30 S223 (南2号館)

森 伸也(阪大)

09:45 〜 10:00

[19a-S223-4] 次世代TCAD(4) モンテカルロイオン注入の畳み込み積分法の検討

大倉 康幸1、山口 憲1、小池 秀耀1 (1.アドバンストソフト)

キーワード:3次元モンテカルロイオン注入、畳み込み積分

Advance/TCAD プロセスシミュレータは、新たに考案した幾何学的な計算モデルと、シリコンカーバイド(SiC)対応を含めた3次元モンテカルロイオン注入モデルを実装したことに特徴がある。
本発表は畳み込み積分のイオン注入モデルへの適用を報告する。