[19a-W321-1~12] 16.3 シリコン系太陽電池

[19a-W321-4] 電圧誘起劣化加速試験により拡散した太陽電池モジュール用部材内のNaの評価

〇大橋 史隆¹、宮腰 悠平¹、水野 佳貴¹、イン マング　マング¹、吉田 弘樹¹、原 由希子²、増田 淳²、野々村 修一¹ (1.岐大工、2.産総研)

キーワード：太陽電池、電圧誘起劣化

太陽電池モジュールの発電性能低下を引き起こす電圧誘起劣化(potential induced degradation: PID)現象は、高温多湿下に設置されたメガソーラーにおいて多発し、太陽電池モジュールのカバーガラスに含まれるNaの拡散が原因の一つとされている。しかしながら、詳細なPID発生メカニズムは明らかになっていない。太陽電池モジュールの長寿命化を目指し本研究では、太陽電池モジュールを構成するカバーガラスおよび封止材に注目し、PID加速試験により各部材中を拡散したNaの評価を行った。