The 63rd JSAP Spring Meeting, 2016

Presentation information

Oral presentation

6 Thin Films and Surfaces » 6.2 Carbon-based thin films

[19p-H103-1~21] 6.2 Carbon-based thin films

Sat. Mar 19, 2016 1:15 PM - 7:00 PM H103 (H)

Hiroshi Kawarada(Waseda Univ.), Tokuyuki Teraji(NIMS), Shozo Kono(Waseda Univ.), Norio Tokuda(Kanazawa Univ.)

5:30 PM - 5:45 PM

[19p-H103-16] Common-gate IV characteristics of Solution-gate FET

〇(B)Keisuke Igarashi1, Takuro naramura1, Shaili M.S1, Masahumi Inaba1, yukihiro Shintani1,2, Atsushi Hiraiwa1, Hiroshi Kawarada1 (1.Waseda Univ., 2.Yokogawa Electric. Corp)

Keywords:diamond

我々はこれまでに様々な表面終端を施した単結晶および多結晶ダイヤモンドを用いて、電解質溶液ゲートFET(SGFET)の電気特性を評価してきた。水素終端SGFETにおいては、表面におけるC-H結合が電気双極子を作製し、ダイヤモンドと液体との界面に負イオンを引き寄せ、電気的中性を得るためにホール密度1013cm-2のp型伝導層を形成する。