[19p-H103-1~21] 6.2 カーボン系薄膜

[19p-H103-20] シンクロトロンX線トポグラフィーによる低欠陥密度高温高圧合成ダイヤモンド(111)単結晶の積層欠陥観察

〇桝谷 聡士¹、森林 明也¹、花田 賢志¹、角谷 均²、嘉数 誠¹ (1.佐賀大院工、2.住友電工アドバンストマテリアル研究所)

キーワード：X線トポグラフィー