The 63rd JSAP Spring Meeting, 2016

Presentation information

Oral presentation

7 Beam Technology and Nanofabrication » 7.1 X-ray technologies

[19p-H137-1~17] 7.1 X-ray technologies

Sat. Mar 19, 2016 1:15 PM - 5:45 PM H137 (H)

Akira Sasaki(JAEA), Takeo Ejima(Tohoku Univ.)

1:30 PM - 1:45 PM

[19p-H137-2] Direct-detection of Self-image of Phase Grating with Phase-separated scintillators for X-ray Phase-Contrast Imaging

Yoshihiro Ohashi1, Nobuhiro Yasui1, Kei Kamada2, Akira Yoshikawa2,3, Toru Den1 (1.Canon Inc., 2.NiCHe Tohoku Univ., 3.IMR Tohoku Univ.)

Keywords:X-ray phase-contrast imaging,radiation detector,scintillator

X 線のTalbot-Lau 干渉計を用いたX 線位相イメージングにおいて、µmスケールの超高解像度撮像可能な直径がサブミクロンの無数のGdAlO3シンチレータファイバー相とAl2O3 マトリックス相の相分離構造からなるシンチレータを用い、位相格子によって形成される8.24µm周期の網目状の自己像を直接観察し、フーリエ解析することで、吸収格子を用いずに直交二方向への微分位相像を取得した結果について報告する。