The 63rd JSAP Spring Meeting, 2016

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Joint Session K » Joint Session K

[19p-P12-1~27] 21.1 Joint Session K

Sat. Mar 19, 2016 4:00 PM - 6:00 PM P12 (Gymnasium)

4:00 PM - 6:00 PM

[19p-P12-21] Fabrication and characterization of zinc-oxide based thin film transistors
by a sol-gel method

Takafumi Daito1, Yuki Omizo1, Masatoshi Koyama1, Toshihiko Maemoto1, Shigehiko Sasa1 (1.Osaka Inst. Tech.)

Keywords:ZnO,TFT,Sol-gel method

TFT用材料に,酸化物半導体が注目されている.TFTの作製には,スパッタ法などの真空プロセスが主に使われている.そこで非真空プロセスであるゾルゲル法を用い,より簡便にTFTを作製するプロセスを検討している.これまで,チャネル層材料は酸化亜鉛(ZnO)を主に使用し,焼結温度や中間乾燥温度などがTFTに与える影響について報告を行ってきた.今回はチャネル層にInおよびGaを添加して,ZnO-TFTとIGZO-TFTの特性評価報告を行う.