2016年第63回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.1 Si系基礎物性・表面界面・シミュレーション

[19p-S223-1~10] 13.1 Si系基礎物性・表面界面・シミュレーション

2016年3月19日(土) 15:30 〜 18:00 S223 (南2号館)

上野 智雄(農工大)、嵯峨 幸一郎(ソニー)

16:45 〜 17:00

[19p-S223-6] Ar/H2熱処理によるSi(100)表面の原子レベル平坦化に関する検討

〇(D)工藤 聡也1、大見 俊一郎1 (1.東工大)

キーワード:表面平坦化プロセス、シリコン、熱処理

前回、我々はSi(100)基板をAr/4%H2雰囲気中で熱処理することでSi表面の原子レベル平坦化を行い、その熱処理雰囲気依存性とMISダイオードの電気特性との相関について報告した。今回、Si(100)基板の熱処理による表面原子レベル平坦化について、熱処理条件に関する検討を行ったので報告する。