[19p-W810-1~16] 2.2 検出器開発

[19p-W810-10] Scintillating Glass GEMによる高解像X線イメージングとCT

〇藤原 健¹、三津谷 有貴²、高橋 浩之²、豊川 弘之¹ (1.産総研、2.東大工)

キーワード：ガス検出器、X線イメージング、コンピュータ断層撮像

本研究ではScintillating Glass GEMを用いて、高解像X線イメージングやCT撮像など産業利用を見据えた開発を行っている。Scintillating Glass GEMはガス中で高い増幅率（10³〜）で電子を増幅するため、~20keVの低エネルギーX線でも高感度に検出することが可能となり、従来の個体検出器では撮像が困難であった軽元素のイメージングを低エネルギーX線を用いて高速に行うことが可能になった（図２）。我々はScintillating Glass GEMの増幅率と安定性の改善に取り組み、100mm□の有感面積を持つデジタルX線イメージングを実現させた。講演では、これでまでの検出器開発の概要と、X線管を用いた産業利用を見据えたイメージング・CT再構成について述べる。