[19p-W810-1~16] 2.2 検出器開発

△ [19p-W810-12] PADC検出器中電子線トラックの構造分析

〇(D)楠本 多聞¹、森 豊²、金崎 真聡¹、小田 啓二¹、誉田 義英³、藤乗 幸子³、山内 知也¹ (1.神大院海事、2.神戸大研究基盤セ、3.阪大産研)

キーワード：PADC、電子線、CR-39

28 MeVの電子線をPADC薄膜に照射し、赤外線分光法を用いて損傷の構造を調査した。それによると、照射前後の吸光度の比である相対吸光度が、エーテル基の場合では照射線量の増加と共に線形的に減少したが、C=O基では48 kGy照射した後に相対吸光度の減少が見られた。本研究ではトラックのオーバーラップモデルを用いた考察を行ったところ、C=Oの損失はエーテル基の切断が進行し、電子がPADCの繰り返し構造に複数ヒットした場合にのみ起こることが明らかになった。