[20a-W631-1~13] CS.4 6.6プローブ顕微鏡, 12.2評価・基礎物性のコードシェアセッション

[20a-W631-3] 金平坦面上に固定した量子ドット固定密度の評価

〇伊藤 裕貴¹、坂上 弘之¹、鈴木 仁¹ (1.広島大先端研)

キーワード：量子ドット、原子間力顕微鏡、X線光電子分光法

金平坦面基板を作製し，その上に自己組織化単分子膜(SAM)を用いて量子ドットを固定した基板を原子間力顕微鏡(AFM)を用いて観察することで，金平坦面上に固定されている量子ドット数を求め，固定密度を評価した．その結果，量子ドットの固定密度は 4×10 ^-4 nm ^-2となった．X線光電子分光法(XPS)の結果からも，AFM像に見られた粒子は量子ドットであることが確認された．