2016年第63回応用物理学会春季学術講演会

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CS コードシェアセッション » CS.4 6.6プローブ顕微鏡, 12.2評価・基礎物性のコードシェアセッション

[20a-W631-1~13] CS.4 6.6プローブ顕微鏡, 12.2評価・基礎物性のコードシェアセッション

2016年3月20日(日) 09:00 〜 12:30 W631 (西6号館)

田中 啓文(九工大)、松原 亮介(静岡大)

10:15 〜 10:30

[20a-W631-6] 周波数シフト法静電気力顕微鏡による有機薄膜太陽電池における光誘起電荷マッピング

荒木 健人1、家 裕隆2、安蘇 義雄2、大山 浩1、〇松本 卓也1 (1.阪大理、2.阪大産研)

キーワード:周波数シフト静電気力顕微鏡、有機太陽電池、光励起電荷

静電気力顕微鏡(EFM)は有機分子上に生成したナノスケールの静電荷、分極状態を検出・画像化することのできる有力な方法である。[1][2] EFMを用いれば、有機薄膜太陽電池への光照射により生じる励起子や電荷を画像としてとらえることができる。振幅フィードバック条件下において、周波数シフト法を用いて光照射で誘起された電荷による静電気力を検出した結果を報告する。