2016年第63回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

3 光・フォトニクス » 3.8 光計測技術・機器

[20p-H116-1~21] 3.8 光計測技術・機器

2016年3月20日(日) 13:15 〜 18:45 H116 (本館)

安井 武史(徳島大)、崔 森悦(新潟大)

13:15 〜 13:30

[20p-H116-1] 干渉縞包絡線変位検出手法の比較

韋 冬1、明田川 正人1 (1.長岡技大機械)

キーワード:光周波数コム、長さ計測、包絡線変位検出

任意の長さをAPRILで表現した時、APRILの整数倍と端数部で表現できる。アンバランスなマイケルソン干渉計において、参照鏡を走査し、パルス列間の相互相関による干渉縞を観察できる。異なる中心波長を持つパルスが走った距離に応じて群遅延距離が生じる。この群遅延距離に注目し、両干渉縞包絡線の相対変位からAPRILの整数部を推定する方法を提案した。干渉縞から包絡線を再生し、その変位を高精度で推定することが本研究において重要である。本稿では、干渉縞包絡線変位を検出する手法の比較結果に関して報告する。