2016年第63回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

7 ビーム応用 » 7.5 イオンビーム一般

[20p-H137-1~15] 7.5 イオンビーム一般

2016年3月20日(日) 13:15 〜 17:15 H137 (本館)

種村 眞幸(名工大)、豊田 紀章(兵庫県立大)

16:15 〜 16:30

[20p-H137-12] ガスクラスターイオンビーム照射によるPEEKの表面改質

魚住 裕樹1、豊田 紀章1、山田 公1 (1.兵庫県大院工)

キーワード:ガスクラスターイオンビーム、ポリエーテルエーテルケトン、接触角

医療用材料等に期待されるPEEKに対し、低エネルギーかつ高効率に表面改質可能なAr-GCIBを照射し、表面のXPS測定、接触角、接着力等から表面改質効果について評価した。Ar-GCIBの加速電圧の増加に伴い、PEEK表面の親水性が向上し、同時にせん断接着力が向上した。