2016年第63回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

3 光・フォトニクス » 3.12 ナノ領域光科学・近接場光学

[20p-S622-1~19] 3.12 ナノ領域光科学・近接場光学

2016年3月20日(日) 13:45 〜 19:00 S622 (南6号館)

松井 裕章(東大)、西田 宗弘(広島大)

16:45 〜 17:00

[20p-S622-12] SiC表面フォノンポラリトンによる光アンテナ電界増強度の測定

國近 祐太1、宮田 純一1、山本 悠人1、川野 貴裕1、笠原 健一1、池田 直樹2、大里 啓考2、杉本 喜正2 (1.立命館大理工、2.物質・材料研究機構)

キーワード:電界増強度、表面フォノンポラリトン、光アンテナ

我々は光検出器の上への光アンテナ搭載を検討している。これまで、Si基板上に中間層(SiO2やAl2O3)を形成し、その上にアンテナを搭載した構造を作製してきた。この構造で、中間層の厚さを変えたときの反射特性を調べるが、反射特性には表面フォノンポラリトン信号が含まれる。この信号の層厚依存性を観測することで、電界増強度の深さ依存性を把握することが出来る。SiO2やAl2O3は非晶質であったが、今回はより明瞭なSPhP信号が期待できるSiCを用いて調べた。