[20p-W521-1~16] 12.4 Organic light-emitting devices and organic transistors

[20p-W521-8] Probing carrier accumulation as pre-electrical breakdown phenomena in double-layer (IZO/a-NPD/Alq3/Al) organic light-emitting diodes under DC stress-biasing:Electric-field-induced optical second-harmonic generation measurement

〇Dai Tagchi¹, Takaaki Manaka¹, Mitsumasa Iwamoto¹ (1.Tokyo Tech)

Keywords:EFISHG,OLED,diagnostics

有機EL素子では高効率発光のため多層構造が採用され、実用化研究が進められている。一方、有機EL素子を長時間駆動すると短絡破壊し、発光が停止するという課題がある。安心・安全な発光素子を開発するためには寿命診断技術が必要である。本研究では、短絡破壊の前駆現象として、EL素子界面に電荷が蓄積し、素子内部に大きな空間電荷電界が形成されることが示された。