2016年第63回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

12 有機分子・バイオエレクトロニクス » 12.4 有機EL・トランジスタ

[20p-W521-1~16] 12.4 有機EL・トランジスタ

2016年3月20日(日) 13:45 〜 18:15 W521 (西5号館)

梶井 博武(阪大)、深川 弘彦(NHK技研)、村田 英幸(北陸先端大)

15:45 〜 16:00

[20p-W521-8] 電界誘起光第2次高調波法による2層積層有機EL(IZO/a-NPD/Alq3/Al)素子の長時間駆動による破壊前駆現象としての電荷蓄積現象の測定

田口 大1、間中 孝彰1、岩本 光正1 (1.東工大)

キーワード:電界誘起光第2次高調波法、有機EL、診断技術

有機EL素子では高効率発光のため多層構造が採用され、実用化研究が進められている。一方、有機EL素子を長時間駆動すると短絡破壊し、発光が停止するという課題がある。安心・安全な発光素子を開発するためには寿命診断技術が必要である。本研究では、短絡破壊の前駆現象として、EL素子界面に電荷が蓄積し、素子内部に大きな空間電荷電界が形成されることが示された。