2016年第63回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

12 有機分子・バイオエレクトロニクス » 12.2 評価・基礎物性

[21a-W631-1~11] 12.2 評価・基礎物性

2016年3月21日(月) 09:00 〜 12:00 W631 (西6号館)

関 修平(京大)、山田 亮(阪大)

11:45 〜 12:00

[21a-W631-11] 横方向TOF法における解析手法の開発

〇(DC)向後 潤一1、石川 謙1 (1.東工大)

キーワード:過渡光電流測定法、横方向TOF、電荷キャリア易動度

多くの有機半導体が有する易動度の異方性をTOF法により測定することを目的とし、電極間全領域均一光励起下における横方向TOF法での解析手法の確立を試みた。その結果、1次元電荷輸送モデルによるシミュレーションに基づくフィッティングよりキャリア易動度を決定することが可能となった。