The 63rd JSAP Spring Meeting, 2016

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Oral presentation

6 Thin Films and Surfaces » 6.4 Thin films and New materials

[21p-H103-1~21] 6.4 Thin films and New materials

Mon. Mar 21, 2016 1:15 PM - 7:00 PM H103 (H)

Tamio Endo(Gifu Univ.), Kyoko Namura(Kyoto Univ.), Tomoko Nagata(Nihon Univ)

4:15 PM - 4:30 PM

[21p-H103-12] Response of hydride ion in BaH2 to electric field: hydrogen forward scattering spectroscopy

Hiroyuki Oguchi1,2,3, Masahiro Saito4, Toyoto Sato5, Hiroki Kuwano1, Shin-ichi Orimo5,6, Taro Hitosugi6,7 (1.Tohoku Univ. Eng., 2.Tohoku Univ. uSIC, 3.Tohoku Univ. NICHe, 4.Toray Research Center Inc., 5.Tohoku Univ. IMR, 6.Tohoku Univ. AIMR, 7.Tokyo Tech.)

Keywords:hydrides,hydride ion conduction,hydrogen concentration observation

我々は水素化物エレクトロニクス創成を目指して、高品質薄膜成長にこれまで取り組んできた。そして、次に目指すのは界面機能の設計であり、その有力手段として、電界を利用した「界面における水素濃度制御」を狙っている。しかし、界面近傍の水素濃度測定について、その場評価手法の開発が大きな課題となっており、早期の確立が望まれている。そこで本研究では、電界に応答する水素濃度変化を評価するために試料セルを新開発し、水素前方散乱測定(HFS: Hydrogen Forward Scattering Spectrometry)を行い、水素濃度の電界印加その場測定を試みた。