2016年第63回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

6 薄膜・表面 » 6.4 薄膜新材料

[21p-H103-1~21] 6.4 薄膜新材料

2016年3月21日(月) 13:15 〜 19:00 H103 (本館)

遠藤 民生(岐阜大)、名村 今日子(京大)、永田 知子(日大)

16:15 〜 16:30

[21p-H103-12] 【注目講演】水素前方散乱測定を用いたBaH2のヒドリドイオン電界応答観察水素前方散乱測定を用いたBaH2のヒドリドイオン電界応答観察

大口 裕之1,2,3、齋藤 正裕4、佐藤 豊人5、桑野 博喜1、折茂 慎一5,6、一杉 太郎6,7 (1.東北大院工、2.東北大μSIC、3.東北大NICHe、4.東レリサーチセンター、5.東北大金研、6.東北大AIMR、7.東工大)

キーワード:水素化物、ヒドリドイオン伝導、水素濃度観察

我々は水素化物エレクトロニクス創成を目指して、高品質薄膜成長にこれまで取り組んできた。そして、次に目指すのは界面機能の設計であり、その有力手段として、電界を利用した「界面における水素濃度制御」を狙っている。しかし、界面近傍の水素濃度測定について、その場評価手法の開発が大きな課題となっており、早期の確立が望まれている。そこで本研究では、電界に応答する水素濃度変化を評価するために試料セルを新開発し、水素前方散乱測定(HFS: Hydrogen Forward Scattering Spectrometry)を行い、水素濃度の電界印加その場測定を試みた。