[21p-H113-1~18] 6.6 Probe Microscopy

△ [21p-H113-3] STM Tip-induced Deformation of a Single Ag Nanoparticle Investigated by Scanning Tunneling Microscope Light Emission Spectroscopy

〇(M2)masaki hotsuki¹, Satoshi Katano¹, Yoichi Uehara¹ (1.RIEC, Tohoku Univ.)

Keywords:Scanning tunneling microscope,Silver nanoparticle

金属ナノ粒子に光を入射した際励起される局在化した表面プラズモン(LSP)による増強電場を応用する上で、銀ナノ粒子のサイズや形状、配置を制御することは必要不可欠である。我々は走査トンネル顕微鏡(STM)探針からの電圧印加により、Si(111)基板上に直径5 nm程度の銀ナノ粒子を任意の場所に作製し、サイズや形状を制御できることを以前報告した。本発表では作製した単一の銀ナノ粒子に対してSTM発光分光計測を行った結果について報告する。