[21p-H113-1~18] 6.6 Probe Microscopy

△ [21p-H113-7] Nanoscale Tracking of Surface Structure on Cell without Invasion
Using Fast Scanning Ion Conductance Microscopy

〇(M2)Hiroki Ida¹, Yasufumi Takahashi^2,3, Akichika Kumatani⁴, Hitoshi Shiku¹, Tomokazu Matsue^1,4 (1.Tohoku Univ., 2.Kanazawa Univ., 3.JST-PRESTO, 4.AIMR, Tohoku Univ.)

Keywords:scanning ion conductance microscopy,live cell imaging,cell surface topology

走査型イオンコンダオクタンス顕微鏡は、細胞の非侵襲計測に特化した走査型プローブ顕微鏡であるが、高速測定が大きな課題であった。本研究は、５０倍以上の高速化を達成し、従来では観察不可能であった細胞表面の動態を非侵襲で可視化した。また、細胞表面構造の自動解析・抽出プログラムを開発し、微小構造の動きを追跡して、ナノ空間分解能での多項目定量評価を可能にした。現在は成長因子を添加した際の応答を解析している。