2016年第63回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

6 薄膜・表面 » 6.6 プローブ顕微鏡

[21p-H113-1~18] 6.6 プローブ顕微鏡

2016年3月21日(月) 13:15 〜 18:00 H113 (本館)

一井 崇(京大)、李 艶君(阪大)

14:45 〜 15:00

[21p-H113-7] 高速走査型イオンコンダクタンス顕微鏡による
細胞表面構造の非侵襲定量追跡

〇(M2)井田 大貴1、高橋 康史2,3、熊谷 明哉4、珠玖 仁1、末永 智一1,4 (1.東北大院、2.金沢大、3.JSTさきがけ、4.東北大AIMR)

キーワード:走査型イオンコンダクタンス顕微鏡、生細胞イメージング、細胞表面形状

走査型イオンコンダオクタンス顕微鏡は、細胞の非侵襲計測に特化した走査型プローブ顕微鏡であるが、高速測定が大きな課題であった。本研究は、50倍以上の高速化を達成し、従来では観察不可能であった細胞表面の動態を非侵襲で可視化した。また、細胞表面構造の自動解析・抽出プログラムを開発し、微小構造の動きを追跡して、ナノ空間分解能での多項目定量評価を可能にした。現在は成長因子を添加した際の応答を解析している。