[21p-H116-1~22] 3.8 光計測技術・機器

△ [21p-H116-5] 波長掃引型OCTを用いた多層構造試料の空間分解スペクトル計測

〇(M1C)大仁田 竜馬¹、塩田 達俊¹ (1.埼玉大大学院)

キーワード：光コヒーレンストモグラフィ、空間分解分光、近赤外分光計測

物体の表面形状や内部構造の断層像を計測する技術としてOCTが盛んに研究されている。OCTは光学干渉計内で参照光とプローブ光を合波させ干渉信号を計測することで断層像を取得する。一方でプローブ光は試料内媒質を伝播することから、波長に依存した光吸収の影響を受けることになる。したがって干渉信号を数値的に解析すれば、試料の各層毎の分光計測が可能であると我々は考えている(空間分解分光)。