2016年第63回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(ポスター講演)

3 光・フォトニクス » 3.8 光計測技術・機器

[21p-P15-1~23] 3.8 光計測技術・機器

2016年3月21日(月) 16:00 〜 18:00 P15 (屋内運動場)

16:00 〜 18:00

[21p-P15-5] ダウンサンプリング位相シフト干渉法を用いた振動分布計測

梅木 遼1、鈴木 孝昌1 (1.新潟大院自然研)

キーワード:振動分布計測、位相シフト、ダウンサンプリング

光学干渉計は高精度変位計測が可能であり、これまで一点における振動計測は広く行われてきた。本研究では特定の周波数で振動している物体の振動分布を高精度に評価できる干渉計測システムを位相シフト法どダウンサンプリング法を用いて構築することを目的とする。高精度な振動分布計測システムは医療の分野に応用でき、例えば生体内耳にある蝸牛の微小振動分布を高精度で計測するなどの応用が可能である。