[21p-S423-1~19] 13.9 光物性・発光デバイス

[21p-S423-6] 蛍光寿命ゆらぎ：蛍光体発光機構解明の新しいアプローチ

〇石井 真史¹、吉松 良²、広崎 尚登¹、大観 光徳³ (1.物材機構、2.デンカ株式会社、3.鳥取大)

キーワード：蛍光寿命、ゆらぎ、蛍光体

蛍光寿命測定は、蛍光体の励起状態からの緩和を、発光強度の時間変化で追うものであり、発光中心の代表的な分析法の一つである。しかし実際の緩和過程は、単純な二準位間の遷移ではなく、拡張指数関数で表されるような、物理的意味を特定し難い場合も少なくない。本研究では、蛍光寿命の統計的ゆらぎから発光機構を特定する新たなアプローチ、「蛍光寿命ゆらぎ（ FLF）法」を提案し新奇蛍光体への適用例を紹介する。