[21p-W351-1~16] 12.3 機能材料・萌芽的デバイス

△ [21p-W351-3] 薄膜PDMSラベルを用いた湾曲フィルム基板のひずみ解析

〇福原 素之¹、赤松 範久¹、小池 泰徳¹、藤川 茂紀^1,2、宍戸 厚^1,3 (1.東工大資源研、2.九大WPI-I2CNER、3.JSTさきがけ)

キーワード：フレキシブルフィルム、表面ひずみ、曲げ挙動

近年フレキシブルデバイスが盛んに研究されている。一方で柔軟な材料の変形挙動は十分に解明されておらず，実用化への大きな課題となっている。最近われわれは，回折光を用いた簡便なひずみ計測法を開発し，フィルムの湾曲に伴う微視的なひずみ計測を検討してきた。本研究では，柔軟なシリコーンエラストマーを薄膜のラベルとしてフィルム基板上にラベル化することにより，フィルム基板の湾曲に伴う表面ひずみを定量的に解析した。