2016年第63回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

12 有機分子・バイオエレクトロニクス » 12.2 評価・基礎物性

[21p-W631-1~14] 12.2 評価・基礎物性

2016年3月21日(月) 13:30 〜 17:15 W631 (西6号館)

金子 哲(東工大)、石井 久夫(千葉大)

17:00 〜 17:15

[21p-W631-14] 熱刺激電流(TSC)-EFISHG及びCMSによるMIS構造素子(IZO/polyimide/α-NPD/Au)のトラップ評価

細川 英機1、田口 大1、間中 孝彰1、岩本 光正1 (1.東工大理工)

キーワード:界面トラップ、熱刺激電流、電界誘起光第二次高調波発生

熱刺激電流(TSC)法は界面トラップ準位分布を評価する手法であるが、界面トラップキャリヤの挙動の詳細の把握には、トラップキャリヤが形成する空間電荷電界についての知見も欠かせない。そこで、我々は、TSC法と電界誘起光第二次高調波発生(EFISHG)法を組み合わせ、界面トラップの深さと界面トラップ電荷の作る電界を同時測定した。また、電荷変調分光(CMS)法測定も行い、キャリヤをトラップする有機半導体層のエネルギー構造も検討した。